三箱式冷熱沖擊試驗機/高低溫濕熱試驗箱主要用于材料或復(fù)合材料的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)檢測試驗,適用于金屬、電子、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)。
根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗室,產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動的。
《GB10592-89》高低溫箱技術(shù)條件;
《GB10586-93》濕熱試驗箱技術(shù)條件;
《GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》:低溫試驗方法;
《GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》:高溫試驗方法;
《GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》:交變濕熱試驗方法;
《GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》:恒定濕熱試驗方法。
主要用于測試材料或復(fù)合材料在瞬間下經(jīng)高溫或低溫連續(xù)環(huán)境下的忍受程度,得以在zui短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,都會用到,是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的*的一項測試箱,用于耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)檢測試驗。
1、溫度范圍:-65℃~150℃:高溫箱:+60℃~150℃;低溫箱:0℃~-65℃;
2、溫度波動度:±2℃;
3、溫度誤差:±2℃;
4、升溫速率:從常溫~150℃≤50min;
5、降溫速率:從常溫~-65℃≤60min;
6、制冷下限溫度:≤-65℃;
7、沖擊溫度:+150~-65℃;
8、工作室尺寸:500×400×400mm(寬×高×深);
9、外形尺寸:約1900×2100×2000mm(寬×高×深);
10、電源:380V±38V;50Hz±1Hz
11、功率:約16.5Kw
12、溫度恢復(fù)時間:≤5min;
13、樣品架承重:10Kg以內(nèi).
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